




1、高稳定度x射线源提供测量所需的x射线,改变管阳极靶材质可改变波长,调节阳极电压可控制x射线源的强度。
2、样品及样品位置取向的调整机构系统样品须是单晶、粉末、多晶或微晶的固体块。
3、射线检测器检测衍射强度或同时检测衍射方向,通过仪器测量记录系统或计算机处理系统可以得到多晶衍射图谱数据。
4、衍射图的处理分析系统,现代x射线衍射仪都附带安装有衍射图处理分析软件的计算机系统,它们的特点是自动化和智能化。

现代生活的每个环节都得益于涂层或薄膜技术。无论是集成电路芯片上的阻挡层薄膜还是铝制饮料罐上的涂层,x射线是研发,产品过程控制和不可缺少的分析技术。作为纳米技术研究,x射线衍射(xrd)和附属技术被用于确定薄膜分子结构的性质。理学的技术和经验为涂层和薄膜测量提供各种无损分析解决方案。

在研究行星进程和地球构造过程中,中能x射线发生装置报价,地理学家们需要分析岩石和矿物样品的组成。x射线衍射仪分析技术如:小点激发,分布分析和无标定量分析,日渐成为地质研究及矿物学研究领域内的主要仪器。x射线衍射仪(xrd)可定量测量相组成。x射线衍射数据的rietveld分析被认为是晶体相定量分析适合的方法。技术和经验为这些判定提供了一系列解决方案。

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