




目前x射线发生装置的角度检定和校准测试主要依据jjg 629—1989<多晶x射线衍射仪检定规程>和jb/t 9400—2010

工业用x射线衍射仪在当今科技领域里用来分析各种物质成分结构的测试仪器已得到了广泛的应用。对材料学、物理学、化学、地质、环境、纳米材料、生物等领域来说,x射线衍射仪都是物质表征和控制不可缺少的方法。xrd能分析晶体材料诸如产业废弃物、矿物、催化剂、功能材料等的相组成分析,中能x射线发生装置,大部分晶体物质的定量、半定量分析;晶体物质晶粒大小的计算;晶体物质结晶度的计算等。

1、送样者在测试x射线衍射之前,请务必事先了解晶体学的基础知识和x射线衍射的基本原理。为什么要用x射线衍射仪以及测试项目(晶型、晶粒尺寸、结晶度、取向度、物相分析等);
2、送样前,请用简单易记的英文字母(如:a,b,中能x射线发生装置厂家,c…)和数字(如:1,中能x射线发生装置,2,3…)对样品进行编号等.
3、粉末样品:须充分研磨,需0.2克左右;
4、 片状样品:需有一个大于5?5mm(佳为15?15mm)平整的测试面;
5、块状样品:需有一个大于5?5mm(佳为15?15mm)平整的测试面,如不平整,可用砂纸轻轻磨平,无厚度要求;
6、纤维样品:
a、取向度测试:样品须疏理整齐,少需长约30mm,直径约3mm一束纤维(大约圆珠笔芯大小的一束丝);
b、常规测试、结晶度、晶粒尺寸:样品须充分剪碎,呈细粉末状,需0.2克左右(大约一分钱的体积);
7、 液体样品不能测试;

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