低能x射线发生装置-易达测量有限公司-低能x射线发生装置报价

x射线发生装置检测样品时有哪些要求？

1、送样者在测试x射线衍射之前，请务必事先了解晶体学的基础知识和x射线衍射的基本原理。为什么要用x射线衍射仪以及测试项目（晶型、晶粒尺寸、结晶度、取向度、物相分析等）；

2、送样前，请用简单易记的英文字母（如：a，b，c…）和数字（如：1，2，3…）对样品进行编号等.

3、粉末样品：须充分研磨，需0.2克左右；

4、 片状样品：需有一个大于5?5mm（佳为15?15mm）平整的测试面；

5、块状样品：需有一个大于5?5mm（佳为15?15mm）平整的测试面，如不平整，可用砂纸轻轻磨平，无厚度要求；

6、纤维样品：

a、取向度测试：样品须疏理整齐，低能x射线发生装置，少需长约30mm，直径约3mm一束纤维（大约圆珠笔芯大小的一束丝）；

b、常规测试、结晶度、晶粒尺寸：样品须充分剪碎，呈细粉末状，需0.2克左右(大约一分钱的体积)；

7、 液体样品不能测试；

x射线发生装置解决哪些问题？

（1）当材料由多种结晶成分组成，需区分各成分所占比例，可使用xrd物相鉴定功能，低能x射线发生装置多少钱，分析各结晶相的比例。

（2）很多材料的性能由结晶程度决定，可使用xrd结晶度分析，确定材料的结晶程度。

（3）新材料开发需要充分了解材料的晶格参数，使用xrd可快捷测试出点阵参数，为新材料开发应用提供性能验证指标。

（4）产品在使用过程中出现断裂、变形等失效现象，可能涉及微观应力方面影响，使用xrd可以快捷测定微观应力。

（5）纳米材料由于颗粒细小，极易形成团粒，采用通常的粒度分析仪往往会给出错误的数据。采用x射线衍射线线宽法(谢乐法)可以测定纳米粒子的平均粒径。

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在研究行星进程和地球构造过程中，地理学家们需要分析岩石和矿物样品的组成。x射线衍射仪分析技术如：小点激发，分布分析和无标定量分析，日渐成为地质研究及矿物学研究领域内的主要仪器。x射线衍射仪(xrd)可定量测量相组成。x射线衍射数据的rietveld分析被认为是晶体相定量分析适合的方法。技术和经验为这些判定提供了一系列解决方案。

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