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x射线发生装置角度校准的光学新方法

目前x射线发生装置的角度检定和校准测试主要依据jjg 629—1989<多晶x射线衍射仪检定规程>和jb/t 9400—2010等技术文件，具体方法是采用光学经纬仪或多面棱体等进行测试，该测量方法实际应用中存在一定难度，x射线发生装置多少钱，其次测量间隔较大，不能---反映真实的角度误差规律.为此，x射线发生装置价格，提出了利用θ角和2θ角同轴并可独立运动的特点，组合采用光电自准直仪和小角度激光干涉仪等仪器，设计了一种新的xrd的角度校准方法，它能够自动快速地连续测量角度，取k=2时，x射线发生装置，扩展不确定度约1.2″.使用该方法测试能够得到θ和2θ轴的误差数据，可用于修正xrd测角误差，提高xrd测试精度.该方法也适用于同步辐射等大型衍射系统等其他需要角度校准的情况.

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在研究行星进程和地球构造过程中，地理学家们需要分析岩石和矿物样品的组成。x射线衍射仪分析技术如：小点激发，分布分析和无标定量分析，日渐成为地质研究及矿物学研究领域内的主要仪器。x射线衍射仪(xrd)可定量测量相组成。x射线衍射数据的rietveld分析被认为是晶体相定量分析适合的方法。技术和经验为这些判定提供了一系列解决方案。

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