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现代生活的每个环节都得益于涂层或薄膜技术。无论是集成电路芯片上的阻挡层薄膜还是铝制饮料罐上的涂层,x射线是研发,低能x射线发生装置公司,产品过程控制和不可缺少的分析技术。作为纳米技术研究,x射线衍射(xrd)和附属技术被用于确定薄膜分子结构的性质。理学的技术和经验为涂层和薄膜测量提供各种无损分析解决方案。

x射线衍射仪(x-ray diffractometer,xrd)是利用x射线衍射原理研究物质内部结构的一种大型分析仪器。令一束x射线和样品交互,用生成的衍射图谱来分析物质结构。它是在x射线晶体学领域中在原子尺度范围内研究材料结构的主要仪器,也可用于研究非晶体。由于其结构不存在晶体结构中原子排列的长程有序,只是在几个原子范围内存在着短程有序,故非晶体材料的xrd图谱为一些漫散射馒头峰。

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