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x射线发生装置角度校准的光学新方法

目前x射线发生装置的角度检定和校准测试主要依据jjg 629—1989<多晶x射线衍射仪检定规程>和jb/t 9400—2010等技术文件，具体方法是采用光学经纬仪或多面棱体等进行测试，该测量方法实际应用中存在一定难度，其次测量间隔较大，不能---反映真实的角度误差规律.为此，提出了利用θ角和2θ角同轴并可独立运动的特点，组合采用光电自准直仪和小角度激光干涉仪等仪器，设计了一种新的xrd的角度校准方法，它能够自动快速地连续测量角度，取k=2时，扩展不确定度约1.2″.使用该方法测试能够得到θ和2θ轴的误差数据，可用于修正xrd测角误差，提高xrd测试精度.该方法也适用于同步辐射等大型衍射系统等其他需要角度校准的情况.

x射线发生装置基本原理

使用的x射线源是x射线管，这是一种装有阴阳极的真空封闭管，中能x射线发生装置，在管子两极间加上高电压，阴极就会发射出高速电子流撞击金属阳极靶，从而产生x射线。当x射线照射到晶体物质上，由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成，这些规则排列的原子间距离与入射x射线波长有相同数量级，中能x射线发生装置多少钱，故由不同原子散射的x射线相互干涉，中能x射线发生装置，在某些特殊方向上产生强x射线衍射，衍射线在空间分布的方位和强度，与晶体结构密切相关不同的晶体物质具有自己的衍射样，这就是x射线衍射的基本原理。

x射线发生装置解决哪些问题？

（1）当材料由多种结晶成分组成，需区分各成分所占比例，可使用xrd物相鉴定功能，分析各结晶相的比例。

（2）很多材料的性能由结晶程度决定，可使用xrd结晶度分析，中能x射线发生装置价格，确定材料的结晶程度。

（3）新材料开发需要充分了解材料的晶格参数，使用xrd可快捷测试出点阵参数，为新材料开发应用提供性能验证指标。

（4）产品在使用过程中出现断裂、变形等失效现象，可能涉及微观应力方面影响，使用xrd可以快捷测定微观应力。

（5）纳米材料由于颗粒细小，极易形成团粒，采用通常的粒度分析仪往往会给出错误的数据。采用x射线衍射线线宽法(谢乐法)可以测定纳米粒子的平均粒径。

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